Сотрудники лаборатории ФОИС приняли участие в международной конференции SmartIndustryCon, представив две исследовательские работы, посвящённые актуальным вопросам безопасности встраиваемых систем. Обе публикации вошли в материалы конференции, индексируемые IEEE Xplore.
06.05.2026
Захар Фирсов и Михаил Шувалкин совместно с Аллой Левиной в исследовании «Method for Testing Microcontroller Vulnerabilities to EM Side-Channel Attacks» представили метод тестирования микроконтроллеров на устойчивость к атакам по электромагнитному стороннему каналу. Предложенный подход позволяет выявлять аппаратные уязвимости, которые невозможно обнаружить при традиционном анализе программного обеспечения. В ходе исследования авторы успешно идентифицировали криптографические ключи на микроконтроллере Arduino Uno с помощью корреляционного анализа электромагнитного излучения, что подтвердило практическую применимость метода.
Как отмечают авторы, программная защищённость устройства не исключает возможности утечки информации через физические каналы. Разработанный метод позволяет разработчикам оценить реальный уровень безопасности на этапе проектирования и принять меры до того, как устройство попадёт в руки злоумышленника.
Также на конференции было представлено исследование «Improving the Efficiency of Lossless Embedding in Text Steganography», подготовленное совместно Николаем Тетеревым и Аллой Левиной. Работа направлена на повышение эффективности методов безвозвратного встраивания скрытой информации в текстовые данные. Стеганографические методы позволяют скрывать факт передачи конфиденциальных сообщений внутри обычных текстов, что важно при защищённом обмене данными в промышленных и корпоративных системах. Авторы предложили оптимизации, повышающие пропускную способность скрытого канала и устойчивость к статистическому анализу.
Представленные разработки имеют практическое значение для специалистов в области безопасности встраиваемых систем, промышленного интернета вещей и защищённой передачи данных.
